JSM-IT200掃描電子顯微鏡，是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號被探測器收集轉換成電訊號，經視頻放大后輸入到顯像管柵極，調制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來測定樣品微觀形貌結構，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，

JCM7000掃描透射電子顯微鏡 ，是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。用來測定樣品微觀形貌結構，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，涉及行業：地質、冶金、材料、農業、石油、化工、制藥、食

JSM-IT500掃描電子顯微鏡，是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號被探測器收集轉換成電訊號，經視頻放大后輸入到顯像管柵極，調制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來測定樣品微觀形貌結構，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、醫療器械，保健品等多種樣品。

JCM7000進口掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。用來測定樣品微觀形貌結構，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，涉及行業：地質、冶金、材料、農業、石油、化工、制藥等。

蔡司Sigma 300/500系列是擁有高品質成像和分析功能的場發射掃描電鏡。它收益于久經考 驗的Gemini電子光學技術。Sigma300/500可以配備多種探 測器，可以滿足不同的應用需求：顆粒物，表面構型及納米結構等樣品的成像。利用Sigma 300/500直觀的4 步工作流程，可以使得日常所需的成 像和分析的效率得到提高。